Los científicos en el Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) han desarrollado un nuevo método radical de enfocar un flujo de iones en un punto tan pequeño como un nanómetro (una milmillonésima de un metro).Debido a la versatilidad de su enfoque, puede utilizarse con una amplia gama de iones adaptados a la tarea en cuestión, se espera que tenga amplia aplicación en la nanotecnología, tanto para la talla menor de los semiconductores, características que ahora son posibles y no destructivos para imágenes de estructuras a nanoescala con mejor resolución que actualmente es posible con microscopios de electrones...Artículo completo
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