El estiramiento del silicio es un nuevo método para medir la tensión. Cómo afectará a los semiconductores?La Universidad de Wisconsin-Madison, ingenieros y los físicos han desarrollado un método de medición de tensión que afecta la forma en películas delgadas de silicio que podría sentar las bases para la electrónica flexible y con mayor rapidez.
Desarrollado por un equipo de investigadores dirigido por Max Lagally, Erwin Mueller W. Bascom Profesor de Ciencia e Ingeniería de Materiales en la UW-Madison, el nuevo método permite a los investigadores medir directamente los efectos de la tensión sobre la estructura electrónica de silicio...Artículo completo
